JTAG улучшает пакет для граничного сканирования ProVision

JTAG Technologies добавили в свой комплект инструментов для граничного сканирования ProVision одиннацать улучшений с целью повышения его производительности. Все обновления доступны на CD17, куда так же включена ProVision Designer Station (PV_DST). Поддержка дополнительных процессоров со встроенной flash-памятью и новый пакет интеграции для поддержки .NET (для взаимодействия с приложениями от Microsoft) были добавлены в ряд существующих пакетов интеграции.

Обновления в ProVision:

  • Добавление поддержки всех инструкций (включая приватные) в режим ProVision’s JTAG Functional Test (JFT)
  • Добавление функции автоопределения типа netlist, которая автоматически определяет форматы netlist, принадлежащиесоответствующим производителям оборудования
  • WGL test vector format (как используемый для IC testing) поддерживается через плагин в ProVision
  • Возможность тестировать (IEEE) 1149 dot 6 to dot 1 соединений
  • Поддержка преобразователей USB-последовательный порт фирмы FTDI (встроенных на отладочной плате)
  • HTML отчеты для TTR и BSD в AEX-последовательностях
  • Возможность импорта и экспорта AEX-последовательностей
  • Поддержка double-latching логики шины
  • Проверка длины регистра граничного сканирования
  • Поддержка множественных ID кодов в BSDL
  • 64-битные драйвера для DataBlaster

Похожий бред:

  • Этот псто слишком уникален

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Protected by WP Anti Spam